【收藏】撂倒你的ICP-MS難點，有解了！

答：那具體要看你的高純度AL是怎么做的了，如果基體很高，那么記憶效應就很強烈，炬管，霧化器，都要換，離子透鏡什么的可能也要洗洗，清洗時間和你的儀器有關系，交叉的比同心的洗的時間要更長。

答：峰寬的單位是原子質量單位。

答：

（1）濃度應該沒有硬性規定吧，但是不能太小，如果濃度太小，本身儀器的本底以及其他元素的干擾就會明顯。這樣在校準別的數據就不準確了。

（2）內標主要用來校正儀器的漂移。如果其它元素對內標基本上沒有同質量的干擾，我想濃度差一些沒什么問題。

其次，ICP-MS做痕量分析用，測量的元素濃度是有限度的，PPM級以上用其它儀器能更方便的測定。

（3）我們實驗室配制的多元素標準液為1ppb, 添加之內標濃度為0.5ppb。

若待測物濃度太高可先將待測物稀釋至適當濃度再添加內標進行分析, 但如果稀釋倍數太高, 似乎添加內標就無意義。

（4）儀器檢測的試樣濃度是有限制的，太高了需要稀釋。內標我做是比檢測限大，比推薦值小，只要沒有什么明顯的干擾就用了。

（5）加內標的濃度由儀器的內標讀數的精密度決定。

答：

（1）應該選擇質量數接近的吧。

（2）內標主要是為了檢測信號隨試驗條件的變化而加入的。應該還是選擇質量數接近的元素。

答：我們調信號時一般不看Be, 如果Co,In,U的精密度小于3%就很好了, 此時Be一般都還可以, 因為在調最佳化是顯示的是瞬時信號, 如果能小于3%, 那么你分析時的RSD肯定能夠小于1%。

答：

（1）要看具體直線的特點了，

首先，如果標準的配制沒問題，如果空白較好，那么選擇哪種方式都不重要了。

如果空白較大，那么肯定要through blank，等同于扣除空白。

由于標準配置不好，或者不準確。

有時候選擇through origin,主要的原因是通過其它點擬和的直線焦距是負的或者正的很大，空白又沒那么大，很可能是標準中的一部分濃度不準確，因此可以強制通過零點，減少誤差，使測量結果更可信一些。

（2）如果標準溶液配置的準確，那么扣除空白后的直線肯定通過零點，實際曲線中，往往是濃度越低，曲線上的點可信度越差，我得感覺是當線性不好的時候，可以選擇通過原點，這樣曲線會有所改善，修正低濃度數據點的不良影響。

答：校正波長用的。

答：試一下下面的方法:

（1）退出軟件, 關閉計算機;

（2）打開氬氣, 調分壓到0.6MPa;

（3）重新打開計算機, 進入軟件, 一般可以正常(主要是錯誤信號沒有消除)。

如果還不行, 盡快跟儀器廠家聯系, 以免耽誤工作。

答：

（1）采用微波爐消解。

（2）高壓微波消解系統，MILLSTONE或CEM等等。

（3）微波消解或酸浸取.視樣品和元素而定.如果作同位素豐度,用浸取就夠了。

（4）看什么環境樣品了，水樣用酸固定就可以了，土壤是比較 難做的，不過微波消解也可以，按照你做的元素不同有不同的速度和方法呀。

答：

（1）顯示是error，那一定應該是控制和通訊的問題吧。

（2）檢查一下循環水是否打開, 流量和水壓是否正確, 一般的分子泵都帶有水流連鎖保護功能, 我們的儀器如果不開水循環, 真空就不能抽上去，因為分子泵不啟動。

（3）如果是熱電的X7系列通訊出了問題,你可以點擊windows任務欄下一個齒輪圖標,找到連接那，先斷開再連接,或是重啟機子。

（4）溫差有沒有設定好呢，環境的溫度也有關系哦。

（5） 也有可能是泵的問題。

答：

（1）建議重新優化儀器。

（2）檢查一下儀器的分辨率,一般10%峰高處的寬度應為0.75 AMU 左右, 如果太寬有可能是干擾, 另外檢查MASS 220 處的背景, 這個地方應該是儀器背景, 如果高于10 CPS, 估計是電子系統的噪音,我用的是熱電的PQ系列, 可能有所不同, 供參考。

（3）3. 大概還是霧化器沒洗干凈。

答：

對于我用的熱電x-7這臺儀器，有兩種不同的測量方法：

跳峰：從一個質樸峰的峰尖直接跳到另外一個峰尖測量，每個峰尖只取少量的點進行測量。測量結果為幾點峰值的平均數(cps)，跳峰方式用于元素含量定量測量。

掃描：在設定區域內固定間隔，每個點計數，最后可以計算出每個峰所有點平均值(cps)，等同于峰面積(因為峰寬一致)。掃描方式用于定性分析較多(對樣品不了解)，靈敏度差。

答：

（1）正常情況下，一年應該沒問題的，不過你得時常注意你的錐哦!

（2）錐孔處很容易積鹽份的，時間一長影響分析的穩定性和儀器的靈敏度。

答：

（1）可以更換的流量的霧化器。

（2）霧化器流速受控于蠕動泵轉速，你可以降低蠕動泵的轉速試試。

（3）霧化效率對靈敏度有很大影響，但霧化器流速對靈敏度影響不大。

（4）背景值與儀器的噪音、實驗用去離子水以及離子檢測器靈敏度有關。想降低背景值，主要還是用合格的去離子水比較有效。經常合理清洗進樣管道，即開機和關機時用去離子水清洗好再關機和實驗。盡量要避免過高濃度的樣品進入，這樣會給儀器造成不必要的污染、降低檢測器的壽命。

（5）選擇低流量高效霧化器可以在減少進樣量的情況下不影響靈敏度。背景值與儀器的離子光學系統及四極桿、檢測器還有信號處理有關，背景值與空白值不是同一個概念。

（6）不妨加酒精試試。ICP-AES好用。

（7）調節蠕動泵。

答：

（1）我想可能是儀器自動保護控制的吧

（2）正常熄火時不應該停 從analysis 到 stand by 機械泵和渦輪泵是不會停的

（3）真空系統需要維護了

（4）可能是滑動閥關閉時動作太慢而引起的, 或是哪里漏氣, 我們曾經出現過, 在廠家工程師電話指導下自己弄好了

（5）應該清洗真空錐了

答：在李冰老師翻譯的<<等離子體質譜手冊>>中有介紹，一般的ICP-MS的ICP的RF的工作線圈是靠近錐的一端是接地的，另一端是大功率的RF，而Plasmalok是工作線圈的中間接地，兩頭一邊是+RF，另一邊是-RF，它的好處是等離子體電位比較低，但是也有缺點，那就是由于線圈靠近錐的部分仍有高壓，而錐是接地的，因而兩者之間容易引起放電，我見過PE的用戶的線圈，靠近錐的一端是黑的，另一端是紫銅的顏色，現在熱電和Agilent在工作線圈和炬管之間加了一個金屬屏蔽圈，并且使其接地，也是為了降低等離子體電位，并且不會引起放電，我們的儀器就是這種方式。

答：

（1）在清洗液中加點金(Au)的化合物, Au與Hg易結合形成絡合物。

（2）一般的濃度是10PPM，這樣就能比較好的清洗Hg的殘留了。

（3）用ICP-MS作汞最好不要作高濃度的，汞容易揮發，倒出跑!一般作<20ppb的比較好操作。

（4）我現在用0.1%巰基乙醇。

（5）用金溶液是經驗溶液，效果比較好。

答：

（1）用拋光氧化鋁粉擦。

（2）可以用幼砂紙打磨。

（3）危險，還是要廠家自己處理的好，PT錐和NI錐都應該有此服務的。該換的時候還是應該換的。

（4）以5%硝酸清洗即可。

（5）可以用鏡面砂紙打磨呀，沒問題的，但我覺得不能用酸洗，尤其是鎳錐，洗過之后，表面發烏，很難擦的。

（6）可以用稀硝酸超聲清洗,具體可以看說明書。我看說明書上沒有打磨的建議，維修工程師也不建議這樣做。

（7）我的意見是用拋光氧化鋁粉擦，不過用鏡相砂紙(很細的一種)打磨也可以。

（8）最重要外邊都不要緊 椎口不要造成磨損，不然影響儀器正常使用，而且下次會很快富集。

（9）不同公司的儀器的維護方法不同。一般在5%的HNO3中浸泡5分鐘即可。有些儀器在兩個錐后面有-100V到-4000V的提取電壓，錐上的沾污會被提取電壓拉入質譜儀中，所以需要清洗徹底一些，比如氧化鋁粉擦亮。或者浸泡過夜。有什么問題最好直接問儀器廠家。不同儀器維護方法不同，不能通用，否則可能會對錐造成損壞。如果用氧化鋁粉擦拭時尤其要注意錐口的里面。

（10） 5%硝酸洗，或者浸泡，注意時間要短!

（11）用脫脂棉蘸氧化鋁粉擦拭。

（12）可以用醋酸試一試，我們都是這么洗的。

（13）建議還是用硝酸洗，用鋁粉雖然洗的很干凈，但是Al的背景很難做下來，而且這樣比較耗費儀器器件。

（14）最好少洗錐，否則你要調節離子透鏡好長時間，穩定達到新平衡好長時間。

答：

（1）最好是蒸餾水。

（2）蒸餾水或去離子水應該都可以，關鍵要水的質量好就行。

（3）蒸餾水或去離子水應該都可以，關鍵要水的質量好就行。

（4）用蒸餾水的目的除了考慮微生物外，還因為有的離子交換水僅使用陰陽樹脂進行去離子處理，過濾效果較差，很易產生懸浮物沉積。

（5）蒸餾水或二次水即可，每箱加一瓶異丙醇 還有一點，留意一下水箱內的水界面，及時添加防止水過少，循環冷卻效率受影響呦.至于什么時候更換，也可以用膠管抽一些出來如果呈淡綠色那肯定是該換了。

答：

（1）一般機器調協不必要用到auto tune，auto tune建議只用來做em的。agilent的用戶手冊上有各個的調節范圍你可以從各項調節范圍來做。最常用的炬管的位置的3個參數，在劃條上慢慢的調節看到信號有向上升的趨勢后又下降，調節到信號的波峰。每項都這樣調。并且不用天天調節，下次調節信號的cps差<30% 就可以了。

（2）推薦調EM用自動，其他參數均可手動，電壓也可以調，儀器手冊有范圍，調多了經驗就出來了。

答：

（1）做優化時如果發現Rh的信號比以前低了，很可能就是錐的問題。經常洗錐是個好習慣。

（2）主要看信號強度是否滿足需要，如果在一批樣品測量過程中信號強度逐漸明顯下降，那就要清洗錐。如果測量靈敏度很差且重現性也很糟，那就得考慮更換錐了，一般這時，可看到錐尖明顯偏心。

（3）樣品作qc若qc下降厲害則一般可以洗了，洗錐要注意方式方法。

（4）好像信號漂移時，就要考慮一下清洗!

（5）在同一次測量過程中，內標調節幅度大于30%就應該清洗錐，否則測量數據會有問題。

答：我覺得能產生抖動的就是泵的問題，叫儀器廠商工程師看看可能是不是哪里有堵塞。

答：

（1）引入Cl-會對許多元素的測量產生干擾，還是盡量避免使用。

（2）icp中的Ar、N、O等元素會與樣品消化過程中引入的Cl、S、C等生成多原子離子，干擾某些元素的測定。比如ArCl會干擾As的測定。

（3）酸產生的元素干擾按嚴重性依次增加的排列順序為：N、Cl、P、S可以為消解液的選擇提供一個依據。

（4）Cl-所產生的干擾通常是可預見的，如ArCl對As75的干擾，ClO對V51與Cr53。

答：

我們的儀器也出過這樣情況，后來工程師查出原因，是冷卻氣流量失控，流量過大，導致儀器錯誤報警，從而保護熄火。換了冷卻氣的質子流量計解決問題。所以你必須請維修工程師來檢查，千萬不要自己動手。

答：

（1）是不是水的壓力和流速達不到要求啊，仔細看看說明書，需要多少壓力。

（2）或者是冷卻水的溫度達不到要求，制冷效果不行。

（3）換新的冷卻水，試試!

（4）先檢查一下冷卻水夠不夠多，打開水冷機的儲水罐，檢查水位，不夠則加水。

水冷機有一進水口和出水口分別與ICPMS主機相連，拔下進水口，開動水冷機(不必開ICPMS)如有水循環流動，則整個管路沒堵，水冷機的泵工作正常。用桶或其它接住流出的水，若見混濁或骯臟，則需更換新水。若水管路沒問題，可看看水冷機是否能正常制冷，設定一個溫度(18~20℃，ICP-MS冷卻所需的)，讓其工作(不必開ICP-MS)，拿溫度計測量一下就知道了。

（5）我覺得是機器傳感器的問題，而不是冷卻水本身。

（5） 考慮一下電源的問題，我們的出現過類似的問題。

答：

（1）沒有酸一樣可以霧化，比如分析水樣啊。

只不過在配置較低的濃度的標準的時候，加酸改善溶液粘度，溶解的更好，減少痕量元素的吸附。

（2）加1%-3%的硝酸會更好，尤其是對Pb等元素。

答：

（1）普通四極桿式質譜儀分析誤差較大一些。

（2）要看你做同位素的那些方面，并且對分析的要求程度有多高，分析Pb，Cs應該用ICP-MS是可以的，一般的應用要求四極桿也是可以滿足的。

（3）用ICP-MS做同位素分析，精度的確比較有限，但是基本上可以得到較準確的結果，Pb和Cs對ICP-MS來說是很方便測定的。

（4）可以用TIMS，偏差小，也可以用MC-ICP-MS，精度高。

（5）現在使用的比較多的為多接收固體質譜儀，TIMS，MAT252等。ICP-MS單接收的精度差，一般不用，但是有一些要求不高的話可以用，多接收的ICP-MS可以。

（6）四極桿ICPMS同位素分析理論精度約為0.05%RSD。

單接收高分辨ICP-MS同位素分析理論精度與四極桿ICP-MS精度相當。

多接收高分辨ICP-MS同位素分析理論精度可到0.001%。

答：

（1）在進樣的毛細管前直接加一三通，三通處接兩根進樣管即可，一根進樣，一根進內標，我都是這樣做的很好用，也很方便。

（2）我聽工程師說在蠕動泵后加一個3通，效果不錯，但是注意死體積和溶液稀釋。

答：可以的，只不過精度不是很高，而且有的元素可以和多接收媲美，比如U/Pb。

答：ID指的是同位素稀釋法。同位素稀釋法主要是通過測定同位素比值來進行，用ICP-MS或者TIMS都可以。測試的精度來說，TIMS的同位素比值測試精度要高于ICP-MS。但是測定的成本比較高，且測定速度比較慢。用ICP-MS進行稀釋法測定精度足夠了(1%)。直接用ICP-MS測定的時候，精度要稍差，一般在10%-15%。對于含量很低的樣品，用ID能夠得到很好的保證。

答：一般用1%左右的酸比較好，有時候不是用酸，堿性溶液也行。還是和樣品的性質有關。

答：這個與電離方式有關，我做過激光電離氣溶膠單顆粒的實驗。含Cl的鹽一般都很容易做出35Cl-和37Cl-的峰。另外我也做了硝酸鹽的，硫酸鹽的都有負離子產生。另外還觀察到了碳的團簇負離子峰。

答：

（1）應該用庫侖方法測量，ICP-MS的效果應該不好。

（2）我做過Cl，Br，I，但F沒有做過，我用的儀器設置F為禁止元素，因為F不能形成正離子。

（3）分析Br、I是沒有問題的，但是要用中性或微堿性介質，酸性是不行的，Cl可以測，但是靈敏度比較低，適合分析PPM數量級的。

（4）記住ICP-MS測定的是微量元素，且有穩定的離子譜m/e的，溴和碘可以測，但氯要視情況來定。

（5）氟的電離電位太高不能作，溴和碘是可以作的。

（6）氯溴碘都可以測，但因氯的電離能太高，故靈敏度很低。最好是采用堿性介質比較穩定，如氫氧化胺等。但值得注意的是用堿熔法處理樣品時，氟亦被回收，且往往樣品中氟含量較高，極易損壞玻璃霧化器。

（7）都是可以做的。

檢測限：F是5 ppm(medium resolution)；Cl、 Br 和 I 分別為3 (high resolution), 0.08 (high resolution) and 0.03 (high resolution) ppb。

（8）測定的時候，介質使用氫氧化銨或者氨水。本底可以很低，并且記憶效應很弱。

（9）溴還好，電離的效率差不多，不像碘，不同的價態電離效率差很多。

答：

（1）本來就是一樣的，空白里面的含量是未知的，就像樣品一樣，只是含量很低而已，空白里面的同位素比值是已知的，加入的稀釋劑同位素比值是已知的；加入的稀釋劑濃度是已知的，就剩下一個未知的就是空白的含量了。

（2）既然是作空白，就要和原來的背景盡量相同。

答：我以前的應用(超純分析為主)很少用到內標，無法給你很好的建議。不過建議你在樣品處理方面做些工作， 你做什么樣品?看樣子滿復雜的，稀釋1000倍后的樣品有沒有進行酸化?可試試加熱消解一下，有助于分解樣品中的基體。

答：

（1）K、Na在自然界中存在較多，所以測量的時候必須足夠的稀釋，本底要干凈，由于兩種元素的靈敏度都十分高，所以需要用冷焰。

（2）只要溶液瓶、所用試劑、所用水能夠保證高純，就能做出來，曲線還不錯，就是標準溶液大概要一周重新配一次。

答：

（1）可能是其他地方也有類似的情況，再檢查一下現在的水壓是不是比原來低了，調高看看。

（2）壓力不足吧。

（3）建議徹底清潔一下，然后調整水的更換周期，可能含有微生物污染物較高，同時如果條件具備的話，請提高原水質量!

答：

（1） 檢出限表示分析方法、分析體系檢測功能優劣的一個重要指標。它的含義是：在確定的分析體系中可以檢測的元素最低濃度或含量。它屬于定性范疇。若被測元素在分析試樣中的含量高于檢出限，則它可以被檢出；反之，則不能檢出。檢出限受空白值大小及標準偏差的影響。

IUPAC于1975年推薦檢出限的定義：“檢出限以濃度(或質量)表示，指由特定的分析方法能夠合理地檢測出的最小分析信號xL求得的最低濃度cL(或質量qL)”，表達式為：

cL(或qL)=(xL-b)/m=KSb/m

式中m為分析校準曲線在低濃度范圍內的斜率；b為空白平均值;Sb為空白標準偏差。測定次數為20次，IUPAC建議K=3作為檢出限計算標準。

AMC(分析方法委員會)推薦真實空白,但在實際分析中，它有時很難得到。許多分析工作者使用試劑空白或接近空白。不同學者對接近空白有不同的定義，分析元素的含量為檢出限的2-5倍。

（2）K=3也是有根據的，其實真正的檢測限計算公式還考慮到了測定結果的置信度：

LOD = 2 squ(2)*t*SD

其中squ(2)即根號2，t為特定置信度下的單邊值，如果測定次數為11次，t=2.2，這樣計算出來SD前面的系數就是3.3左右，如果為20次平行測定，系數則為3。

答：

（1）其實是做了工作曲線的。空白一點，一個標準溶液作為另一點，兩點定標，所以只能是半定量。

（2）就是通過一個空白一個標準來定量的，至于誤差么，要看做什么，用什么儀器做的了，不過總之，誤差是比較大的。

（3）半定量模式應用的是各元素靈敏度間的關系，對于一臺儀器爾言，這個關系應該是固定的。用定量元素繪制半定量曲線，各元素的靈敏度關系就都出來了。半定量曲線使用二次回歸方程。有些元素理論靈敏度與實際靈敏度不一定相符，這是半定量結果不準確的原因之一，需要經驗校正。繪制半定量曲線，選擇定量元素很重要。

答：

（1）建議先高溫下(500度以上)烘2小時，再用微波消解，我作過奶粉中的微量元素，直接消解問題多多，特別是蛋白質多的樣品。

（2）先高溫下(500度以上)烘2小時，會有一些低溫元素損失。建議直接用高壓微波消解，注意中低壓的微波消解不行，我曾經使用過Milestone的高壓微波消解，效果不錯。

（3）Milestone有厚厚“一大本”方法，不同樣品、樣品量、樣品個數、試劑類型、試劑量稍有變化，消解條件就要跟著變。現在好的儀器只需要幾個基本的方法就可以搞定一個實驗室的大部分樣品，如果人家的儀器好，或根本沒有微波消解，拿Milestone的方法沒有意義的。

電熱板：食品用硝酸-高氯酸或硝酸-雙氧水消解，土壤用王水-HF消解。

微波：食品用硝酸或硝酸-雙氧水消解，土壤用逆王水或逆王水-HF消解。

壓力溶彈：試劑與微波法相同，控溫烘箱100℃1小時，185℃4小時。

如果要測Hg，Milestone的高壓罐子會排氣恐怕測不了，我用過CEM的高壓罐和壓力溶彈，Hg回收率是有保證的。